LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

產品型號：
更新時間：2024-12-07

簡要描述：LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現場升級的選項。

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KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進行快速現場升級的選項。
系統可定制的涂層測量

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度（根據DIN EN ISO 2178）并通過渦流法測量非磁性導電基材上的非導電涂層的厚度（根據DIN EN ISO 2360）。

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042應用
可靠的技術與舒適的工具相結合，例如將厚度值顯示為模擬指針，類似于Windows的文件管理以及10種不同語言的免費選擇，可以滿足有抱負的用戶的所有愿望。

LEPTOSKOP 2042是一款經濟型儀器，電池使用壽命超過100小時。

該儀器會記錄操作時間和測量次數，因此這些重要參數本身可用于正確跟蹤測試設備。

供貨范圍內包括彩色橡膠保護套，并具有防滑保護功能，可在工業環境中保護儀器。

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042特點：
大型圖形顯示屏48毫米x 24毫米，帶照明
校準選項：
出廠前已校準，可立即進行測量
在未知涂層上校準*
零位校準*
在未涂覆的基材上進行一次和多箔校準*
校準涂層材料*
校準數據可以單獨存儲在單獨的校準文件中，也可以從那里重新加載。

可選擇的顯示模式，以最佳地適應測量任務*
輸入和監控限額*
在Windows©下可以輕松管理文件來存儲讀數*
可與PC軟件 EasyExport和 iCom一起使用
統計*
統計評估多達999個讀數
最小，最大，平均值，讀數數量，標準偏差，限值監控
局部厚度和平均涂層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統計，所有統計值一目了然

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042選型：
LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別：
基本 -質量可靠的基本功能
統計 -附加統計評估
統計和數據存儲 -統計評估和數據存儲

如果需要，可以隨時將量規升級到高級和/或專業級別。升級過程通過代碼執行，可以在現場輸入代碼以解鎖模塊“統計”和/或“統計和數據存儲”。如果要為新的測量需求添加功能，則無需將儀表返回KARL DEUTSCH進行升級或購買新儀表。

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術數據

串行接口	用于將數據傳輸到RS232或USB
電源	通過電池，USB或電源裝置
測量范圍	0-20000 µm（取決于探頭）
測量率	每秒高達2個讀數
存儲	最高 9999個讀數（最多140個文件）
測量不確定度（校準后）	涂層厚度<100 µm：讀數的1％+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm：讀數的1.0.3％+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm：讀數的3..5％ /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm：讀數的5％+ /- 100 µm

KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件

測試塊和校準箔探頭定位裝置 -適用于所有微型探頭定位輔助 -適用于所有微型探針 PC軟件iCom-用于數據傳輸和整個目錄結構的便捷管理 PC軟件EasyExport-用于將單個讀數或完整文件輕松導出到Windows©程序

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